Shared Service

Forschungsgeräte und -labore / Bildgebung

Electron Microscopy

Strain-field measurements (TEM/STEM)

Nutzbar durch: HU | TU | FU | Charité

Strain measurements by means of S/TEM techniques like GPA, NBED, Dark-Field Electron Holography, or 4D-STEM

Weiterführende Informationen:

https://bua.openiris.io/Landing/Resource?id=26950

Mögliche Nutzer:innengruppen: Keine Einschränkungen

Hinweis

Please contact Dr. Tore Niermann for discusion of your scientific problem.

Anbieter:

FG Elektronen- und Ionen-Nanooptik

Standort Anbieter:

Ernst-Ruska-Building