Shared Service

Forschungsgeräte und -labore / Bildgebung

Scanning Transmission Electron Microscope STEM TEM

TEM STEM JEOL JEM-ARM300F2

Nutzbar durch: HU | TU | FU | Charité

Ultra High Resolution Probe-Corrected 60- to 300kV-STEM, 2.2 sr EDX-/EDS-SDD, MERLIN Direct Electron Detector with Pulse Counting

Phase sensitive Analysis Methods in Cooperation with Chair Experimental Physics/Electron- and Ion-Nanooptics, Prof. M. Lehmann

Detailed information can be found on the ZELMI website here

Weiterführende Informationen:

https://bua.openiris.io/Landing/Resource?id=24535

Mögliche Nutzer:innengruppen: Keine Einschränkungen

Hinweis

Please contact Mr. Sören Selve to get access.

E-Mail: soeren.selve@tu-berlin.de - Phone +49 30 314 26832

Anbieter:

Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie

Standort Anbieter:

TU Berlin

Standort:

Building: TEM